Fotovoltiniai moduliai yra svarbiausia fotovoltinės energijos gamybos įranga. Ypatingos kasdienio montavimo ir eksploatavimo bei priežiūros proceso aplinkybės sukels fotovoltinių modulių karšto taško efektą ir galimą sukeltą fotovoltinių modulių silpninimą (PID), dėl kurio dauguma savininkų patirs nuostolių, todėl turėtume atkreipti dėmesį į fotovoltinės elektrinės valdymą, kad būtų išvengta šių dviejų efektų įrengiant ir kasdien prižiūrint elektrinę.
1. Karšto taško efektas
Tamsesnis saulės elementų modulis serijos šakoje bus naudojamas kaip apkrova, skirta kitų apšviestų saulės elementų modulių pagamintai energijai sunaudoti, o tamsesnis saulės elementų modulis šiuo metu generuos šilumą, kuri yra karštųjų taškų efektas.
Šis poveikis gali labai pakenkti saulės elementams. Dalį saulės elementų, kurie yra apšviesti, pagamintos energijos, gali suvartoti užtamsintos ląstelės. Karštųjų taškų efektas gali būti tik paukščių išmatų gabalas.
Siekiant išvengti saulės elemento sugadinimo dėl karšto taško efekto, geriausia lygiagrečiai prijungti aplinkkelio diodą tarp teigiamų ir neigiamų saulės elementų modulio polių, kad šviesos modulio generuojama energija nebūtų suvartojama tamsesniame modulyje. Kai karšto taško efektas yra sunkus, aplinkkelio diodas gali būti suskaidytas, todėl komponentas sudega.
2. PID efektas
Galimas susilpninimo efektas yra tas, kad akumuliatoriaus komponentai ilgą laiką veikiami aukštos įtampos, sukeldami nuotėkio srovę tarp stiklo ir kapsulės medžiagos, o akumuliatoriaus paviršiuje užpuolamas didelis įkrovimo kiekis, o tai pablogina akumuliatoriaus paviršiaus pasyvavimo efektą ir lemia, kad komponento našumas yra mažesnis nei projektavimo standartas. Kai PID reiškinys yra rimtas, modulio galia bus susilpninta daugiau nei 50%, taip paveikdama visos stygos galią. PID reiškinys yra labiausiai linkęs pasireikšti pakrantės zonose, kuriose yra aukšta temperatūra, didelė drėgmė ir didelis druskingumas.
Sukūrus PID efektą, kai kurios baterijos turi didelį atsparumą, o pagrindinės komponento PID reiškinio priežastys yra šios:
Viena iš jų yra sistemos projektavimo priežastis: fotovoltinės elektrinės žaibo apsauga įžeminta įžeminant modulio rėmą ant kvadratinio masyvo krašto, o tai sukelia šališką įtampą tarp vieno modulio ir rėmo. Kuo didesnė modulio šališkumo įtampa, atsiras PID reiškinys. Kuo rimčiau. P tipo kristalinio silicio komponentams neigiamo keitiklio poliaus įžeminimas transformatoriumi, kad būtų pašalintas teigiamas komponento rėmo šališkumas ląstelės atžvilgiu, veiksmingai užkirs kelią PID reiškinio atsiradimui, tačiau neigiamas keitiklio įžeminimas padidins atitinkamas sistemos statybos išlaidas;
Antroji priežastis yra fotovoltinis modulis: aukšta temperatūra ir didelė drėgmė išorinėje aplinkoje sukelia nuotėkio srovę tarp saulės elemento ir žemės rėmo, o tarp pakavimo medžiagos, galinio lėktuvo, stiklo ir rėmo susidaro nuotėkio srovės kanalas. EVA izoliacinės plėvelės keitimas yra vienas iš būdų realizuoti modulio anti-PID. Su sąlyga, kad bus naudojama skirtinga EVA kapsulinė plėvelė, modulio anti-PID veikimas bus skirtingas. Be to, fotovoltinių modulių stiklas daugiausia yra kalkių natrio stiklas, o stiklo įtaka fotovoltinių modulių PID reiškiniui vis dar neaiški;
Trečioji yra ląstelės priežastis: ląstelių lakšto atsparumo vienodumas, antirefleksinio sluoksnio storis ir lūžio rodiklis turi skirtingą poveikį PID veikimui. Tarp pirmiau minėtų trijų aspektų, kurie sukelia PID reiškinį, modulio PID reiškinys, kurį sukelia galimas skirtumas tarp modulio rėmo ir fotovoltinės sistemos modulio modulio, tačiau modulio mechanizmas, sukeliantis PID reiškinį, dar nėra Akivaizdu, kad atitinkamos priemonės, skirtos dar labiau pagerinti komponentų anti-PID našumą Vis dar neaišku.
